光電探測分析測試系統光電探測器參數自動測試系統為我司專門為PD類光電探測器芯片開發的一套完整的集IV、CV、光響應度等測試應用的交鑰匙在片系統，主要用于解決客戶PD類芯片的研發和自動化篩選測試，系統經驗源于易捷測試在光電模塊、光電器件To封裝以及探針臺領域多年的測試經驗。

光電測試系統伴隨400G、100G通信的到來，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件從特征性能都需要極大提高。從芯片到封裝好的器件特征必須通過相應的參數來衡量相應的O/E和E/O參數。如3dB帶寬、S參數、光波長響應度，接收靈敏度等。該系統就是集成矢網、光調制器、光校準件、探針臺，可對O/E，E/O芯片、封裝好的器件特征參數進行測試。

硅光子晶圓測試系統

G047664光電轉換指示及規格書

高頻自動探針臺晶圓測試系統

X射線輻照及抗輻射測試系統

晶圓級射頻在片測試系統

多功能MMIC自動測試系統基于 Keysight PNA-X 、擴頻模塊、半自動探針臺、高頻探針、自主開發的高精度電動探針座及配套控制軟件的一套毫米波多功能MMIC自動測試系統解決方案

用網絡分析儀建CAL KIT微波集成電路工作在微波和毫米波波段，由微波無源有源元件、傳輸線和互連線集成在一個基片上。隨著微波集成電路技術和制作工藝的發展，集成電路的集成度更高，基片面積更小。作為通用微波測量儀器的矢量網絡分析儀，利用其對微波集成電路進行在片測試，即直接在晶圓上進行微波集成電路S參數測試，難度也更高

失效分析晶圓級（FA）

負載牽引系統|矢量非線性網絡綜合測試系統

毫米波噪聲參數測試系統

2018噪聲建模和噪聲測量研討會

材料電磁參數性能測試系統用于 TR組件的集成測試，可以實現復雜的 TR 組件參數一次連接自動測試；系統具有頻率高、頻帶寬、精度好、速度快等特點，適用于軍工、科研、生產線等機構的 TR 組件自動化測試。

PCB板材料測試解決方案傳統上，商業用途的PCB材料的介電常數測試在相對低的頻率上進行測試，例如1MHz和1GHz。目前為了適應高數據轉換速率的趨勢（對于移動手持設備，電腦，桌面設備），PCB材料的測試頻率正在增加。例如，無線通訊設備的PCB材料在1GHz-10GHz的頻率范圍內測試。

易捷材料測試簡介

非破壞性檢測-超聲檢測IGBT模塊很長一段時間，模塊的制造商一直沒有找到好的非破壞性方法來檢測可能導致這些故障的結構缺陷的方法。為了解決這個問題，使IGBT模塊容易地檢查內部結構缺陷，Sonoscan公司最近開發并開始發布一款C-SAM?聲學顯微成像設備。