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探針臺| MPI 12英寸射頻/高低溫半自動探針臺TS3000-SE

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MPI-TS3000-SE


產品特點:


1,多種晶圓測量應用

  • 模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f

  • 射頻和毫米波 - 26 GHz  110 GHz 及以上

  • 可靠性測試 - 精確的壓力測試

  • 先進的測試控制軟件套件


2ShielDEnvironment? 屏蔽環境

  •  專為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所設計的精密量測環境,以得到最佳的 1/f 超低噪測試結果

  • 支援 fA 級超低噪 IV 量測

  • 可編程的顯微鏡滑臺實現自動化之簡便操作

  • 具配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C  300 °C

3,工效學設計及彈性選配

  • 簡易便利的前門單晶圓/待測物上片設計

  • 內建防震系統

  • 完整的硬件操控整合,方便更快速安全的量測操作

  • 安全測試管理系統 (Safety Test Management, STM?)

  • 選配具自動進行露點控制功能

  • 預留制冷機組空間,節省空間不占位

  • 儀器架選配,可縮短射頻電纜之架設長度,提供最高的量測機能

設備簡介:


TS3000-SE是TS3000探針臺系統的進一步開發,配備MPI ShielDEnvironment?,可實現超低噪聲,極其精確和高度可靠的DC / CV,1 / f,RTS和RF測量,主要滿足設備的需求表征,  晶圓級可靠性以及RF和mmW  應用。獨特的主動冷卻探頭壓板設計可在-60°C至300°C的寬溫度范圍內提供最大的穩定性,使TS3000-SE探頭系統成為在不同熱條件下測試設備的絕佳選擇。


  機臺特往:


MPI-TS3000-SE-Automated-Probe-System-Fact-Sheet_00.png

TS3000.png

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