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解決方案
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射頻在片測試
半導體器件建模及表征測試
THz毫米波在片測試
晶圓級抗輻射電路測試
毫米波多功能MMIC電動測試
高頻自動探針臺晶圓在片測試
多功能MMIC自動測試系統


     毫米波多功能MMIC自動測試系統解決方案

隨著芯片高度集成化的要求,近幾年多功能MMIC得到廣泛應用,同時伴隨著頻率越來越高、器件射頻端口數越來越多,對于on-wafer級別毫米波多功能MMIC測試的可靠性及測試效率面臨不小挑戰。

易捷測試推出對于毫米波多功能MMIC的 on-wafer 器件測試,傳統通常需要使用網絡分析儀、擴頻模塊、測試電纜、探針臺、高精度定制電動探針座、探針、控制及校準軟件等,才能精確的測量毫米波集成電路的 S 參數,全面的表征和驗證元件的特性。深圳市易捷測試技術有限公司的毫米波多功能MMIC自動測試系統解決方案基于 Keysight PNA-X 、擴頻模塊、半自動探針臺、高頻探針、自主開發的高精度電動探針座及配套控制軟件,可以覆蓋毫米波多通道芯片的測量。

 


特征與優勢

易捷測試集成基于 Keysight PNA-X 、擴頻模塊、半自動探針臺、高頻探針、自主開發的高精度電動探針座及配套控制軟件的一套毫米波多功能MMIC自動測試系統解決方案:

Device-Characterization-1.jpg


        測試系統包括:

       Keysight PNA-X 、擴頻模塊、半自動探針臺、高頻探針、自主開發的高精度電動探針座及配套控制軟件,

       具有以下優勢:

  • 基于Keysight PNAX 、擴頻模塊,進一步提高測試精度高;

  • 多功能MMIC射頻端口數較多,通過高精度電動探針座即可實現單個DIE上多端口的自動扎針;然后利用半自動探針臺實現全片測試的移動。

  • 使用高頻的探針可支持毫米波芯片的測量,獨有的功率校準軟件能校準到探針,提高更好的系統穩定性;

 



應用領域


毫米波MMIC可靠性測試
全面表征,驗證元件特性
集成電路S參數測試
毫米波MMIC在片器件測試



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