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解決方案
晶圓硅光測試
光電探測分析測試
光電測試
光電探測分析測試系統

光電探測器參數自動測試系統解決方案

 系統方案簡介

 光電探測器參數自動測試系統為我司專門為PD類光電探測器芯片開發的一套完整的集IV、CV、光響應度等測試應用的交鑰匙在片系統,主要用于解決客戶PD類芯片的研發和自動化篩選測試,系統經驗源于易捷測試在光電模塊、光電器件To封裝以及探針臺領域多年的測試經驗。





 易捷測試推出業界領先的光電探測分析測試系統解決方案,該系統包含半自動探針臺、半導體參數分析儀、LCR測試儀表、激光光源、自動控制測試軟件,并配套打點功能,支持晶圓從2英寸到8英寸整片測試,并支持碎片的測試,含自動XY修正和目前業內最先進的Auto-Z技術。









特征與優勢

快速、高效、穩定的光電探測器參數自動測試系統


易捷測試系統技術解決方案:

 

主要由高精度半自動光電探針臺、測試儀表及自動控制軟件組成,自動光控制測試光電探測器參數并進行判別比較,具有管理、存儲、處理及報表功能。




應用領域


PD類光電探測芯片在片測試
                  光電模塊
光電器件封裝
光通信光電芯片測試光有源器件


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